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您的位置: 首頁 ->  常見問題 -> 射頻端子接觸不良怎樣檢測比較高效
  一般而言,射頻端子接觸不良的檢測主要有瞬斷檢測、單孔分離力檢測、導通檢測三種有效方法,具體如下:
  第一、瞬斷檢測
  有些接線端子是在動態振動環境下使用的。實驗證明僅用檢驗靜態接觸電阻是否合格,並不能保證動態環境下使用接觸可靠。因為,往往接觸電阻合格的連接器在進行振動,衝擊等模擬環境試驗時仍出現瞬間斷電現象,故對一些高可靠性要求的接線端子,希望能100%對其進行動態振動試驗考核其接觸可靠性。
  第二、單孔分離力檢測
  單孔分離力是指插合狀態的接觸件由靜止變為運動的分離力,用來表征插針和插孔正在接觸。實驗表明:單孔分離力過小,在受振動、衝擊載荷時有可能造成信號瞬斷。用測單孔分離力的方法檢查接觸可靠性比測接觸電阻有效。檢查發現單孔分離力超差的插孔,測量接觸電阻往往仍合格。
  第三、導通檢測
  目前,一般大電流接線端子生產廠家產品驗收試驗無此項目,而用戶裝機後一般均需要進行導通檢測。因此建議生產廠家對一些看好的型號的產品應該增加100%的逐點導通檢測。

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